布鲁克D8 X射线衍射仪先容
一、仪器照片
二、基本信息
品牌：布鲁克（Bruker）
型号：D8
仪器类型：多功效X射线衍射仪（XRD）
应用领域：普遍应用于质料科学、冶金工程、化学化工、地质矿产、生物医药等领域， ，，，，，，，可实现粉末样品的物相定性与定量剖析、晶体结构剖析、晶粒尺寸与晶格应变测定、取向度剖析等， ，，，，，，，适配高校浚？？？？蒲惺笛槭摇⒖蒲性核⒅柿考觳饣辜爸种止ひ灯笠档闹柿媳碚饔胫柿抗芸匦枨。。。。。。。
三、主要特点
1. 光源性能稳固：接纳高性能Cu靶X射线源， ，，，，，，，具备高亮度、高稳固性的辐射输出， ，，，，，，，搭配先进的光学聚焦系统， ，，，，，，，可有用提升衍射信号强度与信噪比， ，，，，，，，包管弱衍射信号样品的测试精度。。。。。。。
2. 测角精度优异：配备高精度θ-2θ联动测角仪， ，，，，，，，接纳密闭式设计与细密驱动系统， ，，，，，，，测角精度高、重复性好， ，，，，，，，可实现宽规模、高精度的衍射扫描， ，，，，，，，知足差别区分率需求的测试场景。。。。。。。
3. 测试功效多样：支持粉末衍射、薄膜衍射、小角散射等多种丈量模式， ，，，，，，，可适配差别形态样品（粉末、块状、薄膜、纤维等）的测试需求， ，，，，，，，拓展了仪器的应用规模。。。。。。。
4. 自动化水平高：搭载智能化操作软件与自动样品台， ，，，，，，，可实现样品自动定位、测试参数自动优化、数据自动收罗与剖析， ，，，，，，，大幅降低操作门槛， ，，，，，，，提升测试效率；； ； ；；；； ；同时支持多样品一连测试， ，，，，，，，适配批量样品剖析需求。。。。。。。
5. 运维便捷：仪器光学系统与机械结构稳固性强， ，，，，，，，维护周期长， ，，，，，，，一样平常运维简朴；； ； ；；；； ；软件界面友好， ，，，，，，，具备完善的数据处置惩罚与报告生乐成能， ，，，，，，，便于用户快速完成测试与效果输出。。。。。。。
四、手艺参数
1. X射线源：Cu靶， ，，，，，，，管电压规模30 kV ~ 60 kV， ，，，，，，，管电流规模5 mA ~ 80 mA， ，，，，，，，最大功率4.8 kW；； ； ；；；； ；可选配Co、Fe、Mo等其他靶材。。。。。。。
2. 测角仪参数：θ-2θ扫描模式， ，，，，，，，2θ扫描规模0° ~ 163°（可扩展至170°）， ，，，，，，，测角精度≤0.0001°， ，，，，，，，重复精度≤0.001°。。。。。。。
3. 扫描速率：0.001°/step ~ 20°/min， ，，，，，，，支持一连扫描与步进扫描两种模式， ，，，，，，，扫描步长可精准调理。。。。。。。
4. 区分率：在Cu Kα1线（λ=1.5406 ?）下， ，，，，，，，2θ=28.7°时， ，，，，，，，半高宽（FWHM）≤0.1°（标准样品α-Al?O?）。。。。。。。
5. 样品台参数：自动样品台， ，，，，，，，承载样品尺寸最大可达50 mm（直径）， ，，，，，，，支持样品旋转（转速0 ~ 60 rpm）， ，，，，，，，可镌汰样品取向影响， ，，，，，，，提升测试匀称性。。。。。。。
6. 探测器：配备高迅速度 scintillation 探测器（或可选配二维探测器）， ，，，，，，，计数率可达10? cps， ，，，，，，，具备优异的能量区分能力。。。。。。。
